FIM：场离子显微镜

场离子显微镜（Field Ion Microscope，常简称为FIM）是一种高分辨率表面分析仪器，广泛应用于物理学等学术研究领域。采用缩写FIM便于书写与交流，能够有效观察材料表面的原子级结构，常用于金属表面、纳米材料及催化剂等研究。

Field Ion Microscope具体释义

  • 英文缩写：FIM
  • 英语全称：Field Ion Microscope
  • 中文意思：场离子显微镜
  • 中文拼音：chǎng lí zǐ xiǎn wēi jìng
  • 相关领域： fim 物理学

Field Ion Microscope的英文发音

例句

  1. Field Ion Microscope(FIM) mode, in which information of surface atom structure is obtained;
  2. 场离子显微镜(FIM)模式，可以研究表面原子结构，提供具有原子分辨的实空间原子排列信息；
  3. Field Ion Microscope(FIM) and Time-of-Flight Atom Probe and Their Applications to Quantitative Atom Microexamination on Solid Surface ( I )
  4. 场离子显微镜(FIM)和飞行时间原子探针及其在定量研究固体表面原子微观过程中的应用（一）
  5. The application of field ion microscope atom probe for Materials Science
  6. 场离子显微镜(FIM)原子探针在材料科学中的应用
  7. The field ion microscope and the observation of surface structure of tungsten crystal
  8. 场离子显微镜(FIM)及钨晶体表面结构观察
  9. Technique on Preparing Test Samples for the Use of Field Ion Microscope(FIM) Atomprobe Containing Crystal Boundary
  10. 含晶界场离子显微镜(FIM)&原子探针试样的制备技术

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