BIST：内置自检

“内置自测”（Build In Self Test，简称BIST）是集成电路和数字系统设计领域常用的技术术语，它通过将测试电路集成在芯片内部，实现对系统功能的自动化检测和诊断。BIST的缩写形式便于技术文档撰写与行业交流，尤其在综合测试与验证场景中应用广泛，有助于提升测试效率、降低对外部测试设备的依赖。该技术适用于处理器、存储器和各类嵌入式系统，属于可测试性设计的重要实现方法之一。

Build In Self Test具体释义

  • 英文缩写：BIST
  • 英语全称：Build In Self Test
  • 中文意思：内置自检
  • 中文拼音：nèi zhì zì jiǎn
  • 相关领域： bist 未分类的

Build In Self Test的英文发音

例句

  1. Design and Realization of SATA Build In Self Test(BIST)
  2. SATA内建自测试的电路设计与实现
  3. Moreover, a scan test circuit was proposed. This circuit can implement scan test and high speed build in self test ( BIST ) for IP core chip tests.
  4. 另外，本文还针对IP核投片测试提出一种扫描测试电路结构，能够实现测试芯片的扫描测试和高速内建自测试（BIST）。

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