XR：X射线反射率

X射线反射率（X-Ray Reflectivity，常缩写为XR）是一种广泛应用于材料科学、物理及电子工程等领域的分析技术。该缩写形式简洁易用，便于学术交流与文献撰写，主要用于描述X射线在材料界面处的反射特性。

X-ray Reflectivity具体释义

  • 英文缩写：XR
  • 英语全称：X-ray Reflectivity
  • 中文意思：X射线反射率
  • 中文拼音：shè xiàn fǎn shè lǜ
  • 相关领域： xr 电子

X-ray Reflectivity的英文发音

例句

  1. Structure Parameter of Bi Superconducting Thin Film Using X-Ray Reflectivity
  2. X射线反射法测量铋系超导薄膜的结构参数
  3. The simulation result of X-ray reflectivity shows that the results of film microstructure analysis are reasonable.
  4. X射线反射率(XR)的拟和结果显示薄膜微结构的分析是合理的。
  5. Using the X-ray reflectivity, the structure information of Si / C 20 multilayers sample was gotten.
  6. 利用设备采用X射线反射法，在不破坏样品的情况下得到了Si/C多层膜的结构信息；
  7. A four-layer model was used to simulate soft X-ray reflectivity of Mo / Si multilayers at a given wavelength.
  8. 在特定波长下，用四层结构模型模拟了Mo/Si多层膜的软X射线反射率(XR)。
  9. Soft X-ray reflectivity of Mo / Si multilayers were measured.
  10. 随后在国家同步辐射实验室测量了Mo/Si多层膜的软X射线反射率(XR)。

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