ISSE:原位光谱椭圆偏振法
“In-Situ Spectroscopic Ellipsometry”在学术和科技领域,尤其是在电子学和材料科学研究中,常被缩写为ISSE,以方便书写与日常使用。它的中文对应名称是“原位光谱椭圆偏振法”,这是一种用于实时监测材料表面光学特性变化的精密测量技术。
In-Situ Spectroscopic Ellipsometry具体释义
In-Situ Spectroscopic Ellipsometry的英文发音
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