DLT：设备级测试

“设备级测试”（Device Level Test，简称DLT）是电子及相关学术科学领域中常用的专业术语。该缩写形式DLT被广泛采用，旨在简化书写过程，提升日常使用和文档交流的效率。它特指在设备层级进行的各项功能或性能检测流程。

Device Level Test具体释义

  • 英文缩写：DLT
  • 英语全称：Device Level Test
  • 中文意思：设备级测试
  • 中文拼音：shè bèi jí cè shì
  • 相关领域： dlt 电子

Device Level Test的英文发音

例句

  1. It meets the demands completely and solves the practical difficulties in manufacture and researches. This device has an advanced technology level among the seal and anchor performance test research.
  2. 完全达到了设计要求，解决了生产、科研中的实际难题，在国内封隔器的密封与锚定性能试验研究上技术先进，是一套较先进的综合性能测试设备。
  3. High precision test turntable is a kind of important device for the inertial instruments testing and its quality may have a direct effect on the reliability and confidence level of the test experiments.
  4. 高精度测试转台是测试惯性器件性能的重要设备，其性能指标直接影响测试实验的可靠性和置信度。

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