ABIST：算术内置自测

在集成电路设计与测试领域，“Arithmetic Built in Self Test”通常缩写为ABIST，以方便书写与交流。其对应的中文术语为“算术内置自测”，主要用于描述芯片内部集成的一种算术运算自检测试机制。该术语属于综合技术领域，目前尚未有明确的专业分类。

Arithmetic Built in Self Test具体释义

  • 英文缩写：ABIST
  • 英语全称：Arithmetic Built in Self Test
  • 中文意思：算术内置自测
  • 中文拼音：suàn shù nèi zhì zì cè
  • 相关领域： abist 未分类的

Arithmetic Built in Self Test的英文发音

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