SIM：源无关测量

“源无关测量”（Source Independent Measurement，简称SIM）是一个在电子学及科学领域常用的专业术语。该缩写形式便于在学术写作、技术文档及日常交流中快速书写和使用，其核心含义是指测量过程不依赖于信号或电源的具体来源特性。

Source Independent Measurement具体释义

  • 英文缩写：SIM
  • 英语全称：Source Independent Measurement
  • 中文意思：源无关测量
  • 中文拼音：yuán wú guān cè liáng
  • 相关领域： sim 电子

Source Independent Measurement的英文发音

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