AAFM:声原子力显微镜

“声学原子力显微镜”(Acoustic Atomic Force Microscopy,简称AAFM)是一种广泛应用于材料科学和纳米技术领域的高精度检测技术。该缩写形式AAFM便于在学术文献与技术文档中快速书写与交流,尤其在美国航空航天局(NASA)等前沿科研机构的项目报告和实验分析中频繁出现。

Acoustic Atomic Force Microscopy具体释义

  • 英文缩写:AAFM
  • 英语全称:Acoustic Atomic Force Microscopy
  • 中文意思:声原子力显微镜
  • 中文拼音:shēng yuán zǐ lì xiǎn wēi jìng
  • 相关领域aafm 美国航空航天局

Acoustic Atomic Force Microscopy的英文发音