AAFM:声原子力显微镜
“声学原子力显微镜”(Acoustic Atomic Force Microscopy,简称AAFM)是一种广泛应用于材料科学和纳米技术领域的高精度检测技术。该缩写形式AAFM便于在学术文献与技术文档中快速书写与交流,尤其在美国航空航天局(NASA)等前沿科研机构的项目报告和实验分析中频繁出现。
Acoustic Atomic Force Microscopy具体释义
Acoustic Atomic Force Microscopy的英文发音
本站英语缩略词为个人收集整理,可供非商业用途的复制、使用及分享,但严禁任何形式的采集或批量盗用
若AAFM词条信息存在错误、不当之处或涉及侵权,请及时联系我们处理:675289112@qq.com。