XRT:X射线地形图
X射线形貌术(X-Ray Topography,常缩写为XRT)是一种用于材料结构分析的重要成像技术,通过X射线衍射来观察晶体缺陷和应力分布。该方法广泛应用于材料科学、半导体研究和地质学等领域,因其操作便捷且结果直观,成为多学科交叉研究中常用的表征手段。在中文语境下,该技术常直接译为“X射线形貌图”或“X射线拓扑图”,能够清晰反映材料的微观结构特征。
X Ray Topography具体释义
X Ray Topography的英文发音
例句
- X ray topography was used to investigate the structure and defects of YVO 4 crystal.
- 运用同步辐射白光X射线形貌术分析了YVO4的结构和缺陷行为,也观测了YVO4晶体(001)、(100)面的缺陷。
- The superior properties of the synchrotron radiation and the advantages of the synchrotron radiation X ray topography are introduced.
- 本文介绍了同步辐射光源的特点,以及在应用于X射线形貌术时带来的各种好处。
- The applications of the synchrotron radiation X ray topography on the studies of defects and growth of crystals are briefly presented by means of some experimental results carried out at Beijing Synchrotron Radiation Facility.
- 并通过介绍在北京同步辐射装置上所做的若干实验成果,扼要叙述了同步辐射X射线形貌术在晶体缺陷研究和晶体生长中的应用。
- A study of the quality of sapphire by x & ray diffraction topography
- 用X射线形貌术研究兰宝石晶体质量
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