HIBS：重离子背散射光谱法

“重离子背散射光谱法”是一种常用于电子与材料科学领域的分析技术，其英文全称为“Heavy Ion Backscattering Spectrometry”。为便于书写和交流，该术语常缩写为HIBS。该方法主要通过高能重离子束轰击样品表面，通过分析背散射离子的能量分布，来研究材料的成分、结构及表层特性，在半导体、薄膜分析等方面具有重要应用价值。

Heavy Ion Backscattering Spectrometry具体释义

  • 英文缩写：HIBS
  • 英语全称：Heavy Ion Backscattering Spectrometry
  • 中文意思：重离子背散射光谱法
  • 中文拼音：zhòng lí zǐ bēi sǎn shè guāng pǔ fǎ
  • 相关领域： hibs 电子

Heavy Ion Backscattering Spectrometry的英文发音

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