LSSD:水平敏感扫描设计
“Level-Sensitive Scan Design”通常缩写为LSSD,这种写法便于快速记录和日常使用。该术语常见于计算机硬件设计与测试领域,特指一种基于电平敏感的扫描测试技术。其中文译名为“电平敏感扫描设计”,主要用于提升集成电路的可测试性,是DFT(可测试性设计)中的关键技术之一。
Level-Sensitive Scan Design具体释义
Level-Sensitive Scan Design的英文发音
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