IBE:离子束刻蚀
离子束刻蚀(Ion Beam Etching,简称IBE)是一种利用高能离子束对材料表面进行精细加工的技术。该技术广泛应用于半导体制造、微电子及纳米科学等学术与工业领域,能够实现高精度、高选择性的刻蚀效果。采用英文缩写“IBE”有助于在专业文献和技术交流中实现高效、简洁的表达。
Ion Beam Etching的英文发音
例句
- Si concave microlenses array Ar ion beam etching.
- 标签Si凹微透镜阵列氩离子束刻蚀(IBE)。
- The16-step Fresnel lens had been fabricated by thin film deposition and ion beam etching and it has been used in refractive-diffractive CCD camera.
- 使用薄膜沉积法和离子束刻蚀(IBE)法制作16阶菲涅耳透镜,应用于折衍混合CCD相机。
- Study on step sidewall tilt in ion beam etching of Fresnel lens
- 离子束刻蚀(IBE)过程中台阶侧壁倾斜现象研究
- Acceptable Error of Etching Depth in Ion Beam Etching(IBE) Microlens
- 离子束蚀刻微透镜中蚀刻深度允许误差的研究
- Fabrication of 128 × 128 Area Silicon Field Emission Arrays Using Ar Ion Beam Etching(IBE)
- 128×128元硅场发射阵列的氩离子束刻蚀(IBE)制作
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