PSEM：点源电子显微镜

点源电子显微镜（Point Source Electron Microscope，简称PSEM）是物理学等学术科研领域常用的一种高分辨率成像设备。为便于快速书写与交流，该术语常以其英文缩写PSEM出现。它利用高度聚焦的电子束对样品进行微观观测，在材料科学、纳米技术等领域具有重要应用价值。

Point Source Electron Microscope具体释义

  • 英文缩写：PSEM
  • 英语全称：Point Source Electron Microscope
  • 中文意思：点源电子显微镜
  • 中文拼音：diǎn yuán diàn zǐ xiǎn wēi jìng
  • 相关领域： psem 物理学

Point Source Electron Microscope的英文发音

本站英语缩略词为个人收集整理，可供非商业用途的复制、使用及分享，但严禁任何形式的采集或批量盗用

若PSEM词条信息存在错误、不当之处或涉及侵权，请及时联系我们处理：675289112@qq.com。