XUM:X射线超显微镜
X射线超显微镜(X-ray Ultra-Microscope,常缩写为XUM)是电子与材料科学等领域中广泛使用的高精度观测设备。这一简称便于学术文献和日常交流中的高效书写与引用,有利于科研人员快速识别和运用该技术,推动相关研究的深入发展。
X-ray Ultra-Microscope具体释义
X-ray Ultra-Microscope的英文发音
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