NBTI：负偏压温度不稳定性

“Negative Bias Temperature Instability”在电子与半导体研究领域常被简称为NBTI，这一缩写形式便于学术交流与文献书写。该术语的中文释义为“负偏压温度不稳定性”，主要用于描述在特定偏压和温度条件下器件性能随时间退化的物理现象，是可靠性研究中的重要课题之一。

Negative Bias Temperature Instability具体释义

  • 英文缩写：NBTI
  • 英语全称：Negative Bias Temperature Instability
  • 中文意思：负偏压温度不稳定性
  • 中文拼音：fù piān yā wēn dù bù wěn dìng xìng
  • 相关领域： nbti 电子

Negative Bias Temperature Instability的英文发音

例句

  1. Negative bias temperature instability ( NBTI ) effect in pMOSFET's, which is induced by the application of negative gate bias and high temperature stress, is one of the key problems for reliability of MOS devices.
  2. 在PMOSFET上施加负栅压和高温应力后，出现的NBTI效应是超深亚微米MOS器件中重要的可靠性问题之一。
  3. Negative Bias Temperature Instability(NBTI) in MOS Structures at Low Temperature
  4. MOS结构低温负偏压温度不稳定性(NBTI)
  5. Negative Bias Temperature Instability(NBTI) ( NBTI ) is one of the most important reliability research topics in modern CMOS technologies.
  6. 负栅压温度不稳定性（NBTI）是现代CMOS工艺中最重要的研究方向之一。

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