XRR：X射线反射率

X射线反射率（X-Ray Reflectivity，简称XRR）是材料科学和化学研究中常用的表征技术，用于分析薄膜、界面等纳米尺度结构的表面与界面特性。该技术通过测量X射线在样品表面的反射强度随入射角的变化，能够精确获取薄膜厚度、密度和粗糙度等关键参数。由于其全称较长，在学术写作和日常交流中普遍简写为XRR，以提升书写和使用的效率。

X- Ray Reflectivity具体释义

  • 英文缩写：XRR
  • 英语全称：X- Ray Reflectivity
  • 中文意思：X射线反射率
  • 中文拼音：shè xiàn fǎn shè lǜ
  • 相关领域： xrr 化学

X- Ray Reflectivity的英文发音

例句

  1. Study on the structure of thin film by X ray reflectivity with synchrotron radiation
  2. 用同步辐射X射线反射率(XRR)法研究薄膜结构
  3. The calibration experiment of glancing incidence soft X ray planar mirror reflectivity is reported.
  4. 报道了掠入射软X光平面镜反射率标定实验。
  5. The Schwarzschild objective which consists of two concentric mirrors is extensively used in soft X ray range because the reflectivity of multilayers is lower than that in other range.
  6. 由于软X射线多层膜的反射率还不能像其它波段反射镜反射率那样高，因此由两块同心球面反射镜组成的Schwarzschild物镜在软X射线波段得到了广泛的应用。
  7. In the longer wavelength ( r > 10nm ) of soft x ray region ( 1nm peak reflectivity of a multilayer mirror has reached 66 %.
  8. 在软x射线（1nm＜λ＜30nm）的长波长区域（10nm＜γ＜30nm），多层镜的制作已经成熟，例如：在13.4nm处反射率峰值达到66%。
  9. Numerical simulation of disorder soft X ray multilayer for a maximum integrated reflectivity
  10. 提高光通量的软X射线非周期多层膜的数值模拟

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