SIDP：溅射离子深度剖面

“Sputter Ion Depth Profiling”通常缩写为SIDP，这一简称在学术和科研领域，特别是电子材料分析中广泛应用，旨在方便书写和快速交流。其对应的中文术语是“溅射离子深度剖面”，这是一种通过离子束溅射技术逐层分析材料表面成分与结构的重要表征方法，在薄膜研究和半导体工艺中尤为关键。

Sputter Ion Depth Profiling具体释义

  • 英文缩写：SIDP
  • 英语全称：Sputter Ion Depth Profiling
  • 中文意思：溅射离子深度剖面
  • 中文拼音：jiàn shè lí zǐ shēn dù pōu miàn
  • 相关领域： sidp 电子

Sputter Ion Depth Profiling的英文发音

本站英语缩略词为个人收集整理，可供非商业用途的复制、使用及分享，但严禁任何形式的采集或批量盗用

若SIDP词条信息存在错误、不当之处或涉及侵权，请及时联系我们处理：675289112@qq.com。