EIM:显式间接测度
“显式间接测度”(Explicit Indirect Measure)通常缩写为EIM,这一简称便于快速书写与日常使用。该术语常见于跨学科的综合研究领域,适用于尚未明确归类的相关方法论或测量手段的描述中,具有一定的通用性和灵活性。
Explicit Indirect Measure具体释义
Explicit Indirect Measure的英文发音
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