TUT：晶体管测试
“Transistor Under Test”在技术文档和工程应用中常缩写为TUT，这一表达方式有助于提升书写和沟通效率。该术语常见于机构技术领域及军事相关场景，其核心中文含义为“待测晶体管”或“晶体管测试”，用于描述处于检测状态下的晶体管元件。
Transistor Under Test具体释义
Transistor Under Test的英文发音
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