HTRB：高温反向偏压
“High-Temperature Reverse Bias”在电子工程与半导体领域常被缩写为HTRB，以方便书面和口语中的快速表达。该术语专指在高温环境下对器件施加反向偏压的可靠性测试方法，中文译为“高温反向偏压”，广泛应用于功率半导体、二极管等元器件的耐久性与稳定性评估中。
High-Temperature Reverse Bias具体释义
High-Temperature Reverse Bias的英文发音
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