CLDD:芯片级差分检测
“芯片级差分检测”是电子与半导体技术领域的一项专业术语,其英文全称为“Chip-Level Differential Detection”,常缩写为CLDD,以方便在学术论文、技术文档和工程应用中快速书写和引用。这一技术主要用于芯片设计及信号处理过程中,通过差分检测方法提升系统的抗干扰能力和测量精度。
Chip-Level Differential Detection具体释义
Chip-Level Differential Detection的英文发音
例句
- A novel differential detection method, called Frequency Domain Spread Spectrum Chip-Level Differential Detection(CLDD) ( FD-SS-CLDD ) is proposed in frequency domain spread spectrum system.
- 该文提出了一种频域扩频系统中的差分检测方法:频域扩频码片级差分检测。
- Analysis of the Performance of Time-Frequency Chip-Level Differential Detection(CLDD) in Two-Dimension Spread Spectrum System
- 二维扩频系统中时频码片级差分检测的性能分析
- Performance of Two Dimensional Chip-Level Differential Detection(CLDD) in Fading Channels
- 二维码片级差分检测在衰落信道中的性能
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