AFM:原子力显微镜
“原子力显微镜”(Atomic Force Microscopes)常被缩写为AFM,这种简写方式在书写和使用上更为便捷高效。作为一种高精度的表面分析仪器,AFM广泛应用于材料科学、生物学和纳米技术等多个综合领域,尤其适用于表面形貌和力学性质的微观研究。由于其应用范围广泛且跨学科特点显著,在未严格分类的科技文献和日常交流中也十分常见。
Atomic Force Microscopes具体释义
Atomic Force Microscopes的英文发音
本站英语缩略词为个人收集整理,可供非商业用途的复制、使用及分享,但严禁任何形式的采集或批量盗用
若AFM词条信息存在错误、不当之处或涉及侵权,请及时联系我们处理:675289112@qq.com。