DEM：缺陷估计模型

“缺陷估计模型”（Defect Estimation Model，简称DEM）是一种在电子工程与计算机科学领域被广泛使用的专业术语。为便于书写和交流，该术语常以其英文缩写DEM指代。该模型主要用于预测和分析电子元器件或软件系统中的潜在缺陷数量与分布，对提升产品质量和优化开发流程具有重要意义。

Defect Estimation Model具体释义

  • 英文缩写：DEM
  • 英语全称：Defect Estimation Model
  • 中文意思：缺陷估计模型
  • 中文拼音：quē xiàn gū jì mó xíng
  • 相关领域： dem 电子

Defect Estimation Model的英文发音

例句

  1. In this paper, the lifetime model of IC interconnect is discussed, the effect of the missing metal defect and the random disturbance of IC etching process to the width of interconnect is analyzed, and a new estimation model of interconnect lifetime is presented.
  2. 文中讨论了电路的互连线的寿命模型，分析了丢失物缺陷以及刻蚀工艺的扰动对互连线宽度的影响，提出了新的互连线寿命估计模型。

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