MFM:磁力显微镜
磁力显微镜(Magnetic Force Microscopy,常缩写为MFM)是一种在纳米尺度检测样品表面磁学特性的高分辨率扫描探针技术。它广泛应用于磁性材料、电子器件及数据存储等领域,通过探测样品与磁性探针间的相互作用力,实现对磁畴结构和磁化分布的成像分析。MFM作为磁学研究的重要工具,为微电子和材料科学提供了关键表征手段。
Magnetic Force Microscopy具体释义
Magnetic Force Microscopy的英文发音
例句
- High resolution magnetic force microscopy observation of magnetic vortex structure in soft magnetic Ni_ ( 80 ) Fe_ ( 20 ) thin film elements
- 软磁Ni(80)Fe(20)薄膜单元中磁涡旋结构的高分辨磁力显微观察
- For a perpendicular anisotropic thin film, magnetic force microscopy directly gives its domain structure diagram. The component perpendicular to the film plane gives the position of the domain and the domain wall.
- 对于垂直各向异性的薄膜,磁力显微镜(MFM)图直接给出了它的磁畴结构图,杂散场垂直于膜面的分量给出了它的磁畴和畴壁位置。
- Magnetic Force Microscopy(MFM) Study of Magnetic Nano-Materials and Exploration of Spin Injection into Organic Semiconductors
- 纳米磁性材料的磁力显微镜(MFM)研究及自旋注入有机半导体探索
- As an advantage technique, magnetic force microscopy ( MFM ) was introduced for the observation of magnetic domains, including its principles and applications in Nd Fe B permanent magnets.
- 介绍了磁力显微镜(MFM)(MagneticForceMicroscopy,MFM)的原理、操作以及用于Nd-Fe-B合金磁畴观察的研究状况。
- Magnetic force microscopy ( MFM ) is an important powerful technique in the research of the surface domains. MFM has been widely used to study the soft magnetic sample.
- 磁力显微镜(MFM)(MFM)作为研究表面磁结构的有力工具广泛地应用于磁性薄膜的研究中。
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