BAM：二进制角度测量

“二进制角度测量”（Binary Angular Measurement）在技术文档和实际应用中常被缩写为BAM，以便于快速书写与高效使用。该术语多见于军事及专业机构领域，主要用于描述基于二进制系统的角度测量技术，具有表达简洁、便于数字化处理的优势。

Binary Angular Measurement具体释义

  • 英文缩写：BAM
  • 英语全称：Binary Angular Measurement
  • 中文意思：二进制角度测量
  • 中文拼音：èr jìn zhì jiǎo dù cè liáng
  • 相关领域： bam 军事

Binary Angular Measurement的英文发音

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