SIMS：二次离子质谱法

二次离子质谱法是一种广泛应用于多个科学领域的分析技术，其英文全称为“Secondary Ion Mass Spectrometry”，常缩写为SIMS以便于书写和使用。该方法通过分析样品表面被离子轰击后产生的二次离子，来实现材料成分的高灵敏度检测，在材料科学、地质研究和半导体工业中具有重要价值。

Secondary Ion Mass Spectrometry具体释义

  • 英文缩写：SIMS
  • 英语全称：Secondary Ion Mass Spectrometry
  • 中文意思：二次离子质谱法
  • 中文拼音：èr cì lí zǐ zhì pǔ fǎ
  • 相关领域： sims 未分类的

Secondary Ion Mass Spectrometry的英文发音

例句

  1. Secondary ion mass spectrometry
  2. 次级离子质谱分析法
  3. The technique, called secondary ion mass spectrometry, was developed to detect trace amounts of volatile gases such as chlorine and fluorine in Earth soil samples.
  4. 这项技术叫做次级离子质谱法（SIMS），本来是用来检测地球样土中氯、氟等微量挥发性气体的。
  5. Testing method for oil separation of lubricating greases secondary ion mass spectrometry
  6. 润滑脂的油分离测定法次级离子质谱分析法
  7. Time-of-Flight secondary ion mass spectrometry ( TOF-SIMS ) is a very sensitive surface analytical technique, well established for many industrial and research applications.
  8. 飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面检测技术。
  9. Secondary ion mass spectrometry The five-category assets classification for bank loans
  10. 次级离子质谱分析法贷款质量五级分类办法

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