PFM：压应力显微镜

压电力显微镜（Piezoresistance Force Microscopy，常简称为PFM）是一种在材料科学和纳米技术领域广泛应用的扫描探针显微技术。该技术通过检测局部压电效应实现对材料表面电学与力学特性的纳米级表征，适用于铁电、压电材料及多功能器件的性能研究。缩写PFM因其书写简便、便于交流而成为行业内的通用表达。

Piezoresponse Force Microscopy具体释义

  • 英文缩写：PFM
  • 英语全称：Piezoresponse Force Microscopy
  • 中文意思：压应力显微镜
  • 中文拼音：yā yìng lì xiǎn wēi jìng
  • 相关领域： pfm 未分类的

Piezoresponse Force Microscopy的英文发音

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