DFT：测试设计

“Design For Test”在工程实践中常被缩写成DFT，这一缩写便于快速书写与交流，尤其常见于集成电路设计、硬件测试等综合技术领域。其核心含义即“测试设计”，指的是通过预先规划测试方案来提升产品的可测试性与质量保障效率。

Design For Test具体释义

  • 英文缩写：DFT
  • 英语全称：Design For Test
  • 中文意思：测试设计
  • 中文拼音：cè shì shè jì
  • 相关领域： dft 未分类的

Design For Test的英文发音

例句

  1. Design of FFT IP Core and Research of Design for Test
  2. FFTIP核设计及其可测性设计的研究
  3. Improved Design for Test Bench of Electric Locomotive Unit Brake
  4. 电力机车单元制动器试验台改进设计
  5. Design for Test in ASIC of High Speed Deserializer
  6. 高速串行数据接收器专用集成电路的可测性设计
  7. Electrically suspended gyroscope Tentative Design for Test Table of ESG
  8. 静电陀螺测试转台电气部分方案设计
  9. A plan of Design For Test(DFT) based of Boundary Scan testing is introduced for this signal processing system.
  10. 接着，提出了该信号处理系统基于边界扫描的可测性设计方案。

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