ATEM:分析透射电子显微镜
“分析透射电子显微镜”(Analytical Transmission Electron Microscopy,简称ATEM)是一种广泛应用于多个科研与工业领域的高分辨率材料分析技术。为了便于书写与交流,其英文名称常缩写为ATEM,尤其在综合性和跨学科研究中被频繁使用。该技术通过透射电子束对样品进行微观结构和成分分析,在材料科学、纳米技术和生物医学等领域发挥着重要作用。
Analytical Transmission Electron Microscopy具体释义
Analytical Transmission Electron Microscopy的英文发音
例句
- A Study of Observing Ferro Magnetic-material Sample by Using Analytical Transmission Electron Microscopy(ATEM)
- 用分析型透射电镜观测铁磁样品的研究
- The high sensitive and precision, undamaging INAA and the high resoluble Analytical Transmission Electron Microscopy(ATEM) ( ATEM ), Electron X ray were employed to trace and measure the matter in the air exhausted from the burning of coal and to observe the shapes of the matter.
- 应用高灵敏度、高精确度、无破坏的中子活化分析及透射电镜电子-X荧光等方法技术,对燃煤在大气中排放的物质成分作跟踪测量,并对它的形态作了检测及研究。
- Optical microscopy, precise analytical balance, transmission electron microscopy, scanning electron microscopy and X-ray diffraction were used for investigation on composite microstructure and interface morphology.
- 利用光学显微镜、精密分析天平、透射电子显微镜、扫描电子显微镜和X射线衍射对复合材料的微观组织和界面形貌进行研究。
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