BT：位测试

在计算机科学领域，尤其是汇编语言和底层程序设计中，“Bit Test”（中文意为“位测试”）是一项常见的操作指令，用于检测特定二进制位（bit）的状态。为便于书写与交流，该术语常被缩写为“BT”。无论是硬件描述、寄存器操作还是状态检查，BT指令都发挥着关键作用，帮助程序员高效地实现位级数据处理与逻辑判断。

Bit Test具体释义

  • 英文缩写：BT
  • 英语全称：Bit Test
  • 中文意思：位测试
  • 中文拼音：wèi cè shì
  • 相关领域： bt 程序集

Bit Test的英文发音

例句

  1. Principle of software for precise data acquisition system and its application in single cone bit test
  2. 精密数据采集系统的软件原理及在单牙轮钻头实验中的应用
  3. Missile Control System BIT Test Methods Based on ANFIS
  4. 基于ANFIS的控制系统的BIT检测方法
  5. This paper introduces the software principle and the program compiling method for data acquisition with PDC ( precisidata acquisition and control system ), and its application in the single cone bit test.
  6. 本文介绍了PDC数据采集（/控制站）的软件原理和编程方法及在单牙轮钻头实验中的应用。
  7. The four key problems, i.e., the design of injection node, the realization of fault injection circuits, the design of the structure of the fault injection tool and the software package of the intelligent BIT test adapter, are mainly discussed.
  8. 对智能化测试适配器故障注入节点的设计、故障注入电路的实现、故障注入器结构体系的设计、智能化测试适配器软件包四个关键技术问题给出了具体的方案。
  9. After a short description of an intelligent BIT test adapter, the paper mainly discusses the principle of back driving, back driving technology in fault injection and the feature of back driving based fault injection.
  10. 文章首先简单介绍了智能化BIT测试适配器，接着重点阐述了后驱动技术的原理、后驱动故障注入的实现及后驱动故障注入的特点。

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