ABIST：模拟内置自检

“模拟内置自检”（Analog Built In Self Test，简称ABIST）是集成电路设计领域中的一个常见术语，主要用于描述芯片内部模拟电路的功能自测试机制。ABIST通过内置的逻辑电路自动完成对模拟模块的检测，有助于提升芯片测试效率与可靠性。该技术广泛应用于模拟与混合信号集成电路中，对保证产品质量与缩短测试时间具有重要作用。

Analog Built In Self Test具体释义

  • 英文缩写：ABIST
  • 英语全称：Analog Built In Self Test
  • 中文意思：模拟内置自检
  • 中文拼音：mó nǐ nèi zhì zì jiǎn
  • 相关领域： abist 未分类的

Analog Built In Self Test的英文发音

例句

  1. Abstract This paper presents a new structure of Analog Built - In Self - Test circuit ( ABIST ) consisting of analog multiplexers.
  2. 本文提出了采用模拟多路开关的模拟内建自测试电路ABIST的一种新结构。

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