XRR：X射线反射计

X射线反射计（X-Ray Reflectometry，常缩写为XRR）是一种广泛应用于物理学等学术科研领域的分析技术。该缩写形式便于快速书写与交流，尤其适用于专业文献和技术讨论中。它主要用于研究薄膜、表面及界面的微观结构特性，是材料科学和表面物理研究中的重要工具。

X- Ray Reflectometry具体释义

  • 英文缩写：XRR
  • 英语全称：X- Ray Reflectometry
  • 中文意思：X射线反射计
  • 中文拼音：shè xiàn fǎn shè jì
  • 相关领域： xrr 物理学

X- Ray Reflectometry的英文发音

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