PEMI II：第二代便携式工程莫尔干涉仪

“Portable Engineering Moire Interferometer, Second generation”常被缩写为PEMI II，以便在学术写作和日常交流中快速使用。该设备主要用于物理学及相关工程领域的精密光学测量，能够实现对材料应变和形变的高精度分析。其中文全称为“第二代便携式工程莫尔干涉仪”，强调其便携性与工程适用性，是实验室和现场测试中的重要工具。

Portable Engineering Moire Interferometer, Second generation具体释义

  • 英文缩写：PEMI II
  • 英语全称：Portable Engineering Moire Interferometer, Second generation
  • 中文意思：第二代便携式工程莫尔干涉仪
  • 中文拼音：dì èr dài biàn xié shì gōng chéng mò ěr gān shè yí
  • 相关领域： pemi ii 物理学

Portable Engineering Moire Interferometer, Second generation的英文发音

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