TEM：隧道电子显微镜

隧道电子显微镜（Tunneling Electron Microscopy，简称TEM）是物理学及材料科学等学术领域广泛使用的重要分析技术。该缩写形式TEM便于快速书写与传播，常用于专业文献与学术交流，其全称直译为“隧道电子显微镜”，主要用于在原子尺度观测材料的表面结构与电子特性。

Tunneling Electron Microscopy具体释义

  • 英文缩写：TEM
  • 英语全称：Tunneling Electron Microscopy
  • 中文意思：隧道电子显微镜
  • 中文拼音：suì dào diàn zǐ xiǎn wēi jìng
  • 相关领域： tem 物理学

Tunneling Electron Microscopy的英文发音

例句

  1. At the same time, many new and powerful experimental techniques, such as atomic force microscopy ( AFM ), scanning tunneling microscopy ( STM ), and high resolution transmission electron microscopy ( HRTEM ) were used to study the properties of nanoribbons.
  2. 与此同时，许多新的、功能强大的实验设备被用来研究纳米带的特性，常用的有原子力显微镜、扫描隧道显微镜以及高分辨电子显微镜等。

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