SAES:扫描俄歇电子能谱
为便于快速书写和使用,“Scanning Auger Electron Spectroscopy”通常被缩写为“SAES”。这一术语常见于材料科学、表面分析等多个综合性研究领域,尚未有严格的学科分类。其中文全称为“扫描俄歇电子能谱”,是一种高精度的表面分析技术,可用于探测材料表面的元素组成和化学状态信息。
Scanning Auger Electron Spectroscopy具体释义
Scanning Auger Electron Spectroscopy的英文发音
例句
- Scanning Auger electron spectroscopy
- 扫描俄歇电子能谱(SAES)学
- The composition and depth distribution of elements on the surfaces of Co ion implantation modified carbon fiber microelectrode were determined by scanning electron microscope and Auger electron spectroscopy.
- 用扫描电子显微镜(SEM)和俄歇电子能谱(AES)两种表面分析技术对Co离子注入修饰微电极的表面状况、表面元素组成及深度分布进行测定。
- Microstructures of the CdTe thin films prepared by vacuum evaporation technique were reported by the scanning electron microscope ( SEM ), Auger electron spectroscopy ( AES ) and x ray diffraction ( XRD ).
- 应用真空蒸发技术制备CdTe薄膜,并借助于扫描电子显微镜(SEM)、扫描俄歇谱仪(AES)和X射线衍射仪(XRD)对其微观结构进行分析。
- Corrosion of anti-rust aluminum plate was analyzed by means of optical microscope, scanning electron microscope, energy dispersive spectroscopy, auger electron spectroscopy and X-ray photon spectroscopy.
- 采用光学金相、扫描电镜、能量色散谱、俄歇电子能谱和X光电子能谱等多种方法分析了防锈铝板表面发生大面积腐蚀的原因。
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