BIM:二元强度掩模
“二元强度掩模”常简称为BIM(Binary Intensity Mask),这一缩写形式便于快速书写与使用,尤其在电子工程、图像处理等学术与科技领域应用广泛。该术语主要用于描述一种基于二值化处理的光强控制或信号识别方法。
Binary Intensity Mask具体释义
Binary Intensity Mask的英文发音
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