FCMN：纳米电子学表征与计量学的前沿

在学术科学领域，尤其是电子学相关方向，“Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics”是一个重要的专业术语。该名称常被缩写为FCMN，以方便在文献、会议及日常交流中快捷使用。其中文含义为“纳米电子学表征与计量学的前沿”，它涵盖了纳米尺度下电子器件性能分析与测量的最新研究进展。

Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics具体释义

  • 英文缩写：FCMN
  • 英语全称：Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
  • 中文意思：纳米电子学表征与计量学的前沿
  • 中文拼音：nà mǐ diàn zǐ xué biǎo zhēng yǔ jì liàng xué de qián yán
  • 相关领域： fcmn 电子

Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics的英文发音

本站英语缩略词为个人收集整理，可供非商业用途的复制、使用及分享，但严禁任何形式的采集或批量盗用

若FCMN词条信息存在错误、不当之处或涉及侵权，请及时联系我们处理：675289112@qq.com。