FIM：场离子显微镜

“场离子显微镜”（Field Ion Microscopy）是一种常用于电子与材料科学等学术领域的分析技术。为了方便书写与交流，该术语常被缩写为FIM，广泛应用于科研文献及专业讨论中。

Field Ion Microscopy具体释义

  • 英文缩写：FIM
  • 英语全称：Field Ion Microscopy
  • 中文意思：场离子显微镜
  • 中文拼音：chǎng lí zǐ xiǎn wēi jìng
  • 相关领域： fim 电子

Field Ion Microscopy的英文发音

例句

  1. Electroluminescent display field ion microscopy
  2. 电发光显示器；电致发光显示器；场致发光显示器电场离子显微镜(FIM)检查法
  3. Study of coarsening of microdomains in block copolymers by lattice Boltzmann methods field ion microscopy
  4. 嵌段聚合物微相分离后期相区粗化过程的格子Boltzmann研究电场离子显微镜(FIM)检查法
  5. The principle and the progress in the applications of the field ion microscopy and atom probe microanalysis technique in studying crystal defects have been reviewed.
  6. 本文概述了场离子显微术（FIM）及原子探针微区分析方法（AP）的基本原理及其在晶体缺陷研究方面应用的新进展。
  7. The applications of field ion microscopy in the research on crystal defects
  8. 场离子显微术在晶体缺陷研究中的应用
  9. Atomic structure of alloying of Mo on Rh ( 001 ), ( 111 ) and ( 111 ) planes have been directly observed in the field ion microscopy for the first time.
  10. Rh（001），（111）和（111）表面被Mo合金化的原子绪构已首次成功地用场离子显微镜(FIM)直接观察到。

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