SMC:扫描多曲线
“Sweep Multi-Curve”(扫描多曲线)在学术及电子工程领域广泛应用,常缩写为“SMC”,以便于快速书写和高效使用。该术语主要用于描述信号分析或测试过程中涉及的多条曲线扫描技术,是仪器测量和数据处理中的常见概念。
Sweep Multi-Curve具体释义
Sweep Multi-Curve的英文发音
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