UAFM：超声原子力显微镜

超声原子力显微镜（Ultrasonic Atomic Force Microscopy，简称UAFM）是一种在物理学及相关科研领域广泛应用的精密检测仪器。为便于书写和交流，学界常将其缩写为UAFM。该技术结合了超声波激励与原子力探针，能够实现材料表面纳米尺度的高分辨率成像与力学性能分析，在材料科学和纳米技术研究中发挥着重要作用。

Ultrasonic Atomic Force Microscopy具体释义

  • 英文缩写：UAFM
  • 英语全称：Ultrasonic Atomic Force Microscopy
  • 中文意思：超声原子力显微镜
  • 中文拼音：chāo shēng yuán zǐ lì xiǎn wēi jìng
  • 相关领域： uafm 物理学

Ultrasonic Atomic Force Microscopy的英文发音

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