BIST：内置自检

“Built In Self Test”在电子工程和计算机科学等学术与工业领域中被广泛使用，其缩写形式“BIST”更为常见，便于书写和交流。这一术语的中文含义为“内置自检”，常用于描述芯片或电子系统中集成自测试功能的电路设计，有助于提升系统的可靠性和可测试性。

Built In Self Test具体释义

  • 英文缩写：BIST
  • 英语全称：Built In Self Test
  • 中文意思：内置自检
  • 中文拼音：nèi zhì zì jiǎn
  • 相关领域： bist 电子

Built In Self Test的英文发音

例句

  1. This method can be applied to the built in self test of equipment and accomplish on line fault detection of period signals.
  2. 该方法可应用到设备内部自测试中，并可完成周期信号的在线故障检测。
  3. According to the 8K SRAM module of SOC, a BIST ( built in self test ) circuit design based on the March C-algorithm was discussed.
  4. 针对某SOC中嵌入的8KSRAM模块，讨论了基于MarchC-算法的BIST电路的设计。
  5. With the fast growing portable electronics market and higher need of wafer test, power consumption problem of built in self test ( BIST ) has attracted more and more considerations.
  6. 随着手持设备的兴起和芯片对晶片测试越来越高的要求，内建自测试的功耗问题引起了越来越多人的关注。
  7. Template content research of built - in self test
  8. 软件内建自测试系统中模板的研究
  9. Abstract This paper presents a new structure of Analog Built - In Self - Test circuit ( ABIST ) consisting of analog multiplexers.
  10. 本文提出了采用模拟多路开关的模拟内建自测试电路ABIST的一种新结构。

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