KFM：开尔文力显微镜

开尔文力显微镜（Kelvin Force Microscopy，常缩写为KFM）是一种广泛应用于材料科学、半导体研究和表面物理等综合领域的表面表征技术。其缩写形式KFM便于快速书写与交流，常见于各类未分类或跨学科的相关文献和讨论中。该方法通过检测样品表面与探针之间的静电力，实现纳米尺度下的表面电势和电荷分布测量。

Kelvin Force Microscopy具体释义

  • 英文缩写：KFM
  • 英语全称：Kelvin Force Microscopy
  • 中文意思：开尔文力显微镜
  • 中文拼音：kāi ěr wén lì xiǎn wēi jìng
  • 相关领域： kfm 未分类的

Kelvin Force Microscopy的英文发音

例句

  1. The contact potential difference ( CPD ) at the boundary of the electrode and substrate in ZnO film is measured using Kelvin probe force microscopy ( KFM ) and the relationship between measured CPD and scanning speed is studied.
  2. 本文利用开尔文力显微镜(KFM)观测了ZnO薄膜上ZnO/Si台阶处的接触电势差，研究了扫描速度对接触电势差检测的影响，并分析了造成这种影响的原因。
  3. Kelvin Probe Force Microscopy for Contact Potential Difference Measurement of ZnO Film
  4. 开尔文力显微镜(KFM)检测ZnO薄膜的接触电势差

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